Analyse minéralogique par Diffraction des Rayons X (XRD) sur système PANalytical XPert-Pro du CERPT
L’ensemble des échantillons analysés a préalablement été réduit en poudre fine (<100 µm) par broyage dans un mortier agate (MNHN-Prot-002-v01_BroyageXRD). Les poudres ont été placées sur des plots afin de les passer en série à l’aide d’un passeur automatique. Les mesures ont été réalisées avec un diffractomètre PANalytical XPert-Pro selon la configuration suivante : source de rayons X (Cu Kα-1.54 Å), monochromateur arrière avec une tension de 45 kV, un courant de 40 mA, une fente de divergence automatique, θ − 2θ, 4-70°, un pas de 0.017° toutes les 29 s.